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菲希爾X射線測厚儀

]資料
如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: 菲希爾X射線測厚儀
產品型號: X-RAY XUL
產品展商: 德國菲希爾Fischer
關注指數:7352
產品文檔: 無相關文檔
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簡單介紹
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE?-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。菲希爾X射線測厚儀又名菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀,X-RAY XUL系列分為固定平臺的XUL和手動平臺XUL-xym

菲希爾X射線測厚儀

   的詳細介紹

菲希爾X射線測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射線光譜儀,主要用于無損厚度測量和成分析。
菲希爾X射線測厚儀比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了

XULX射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。


本款儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

典型的應用領域有:

              在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量

              在連接器和電氣元件上的測量

              電鍍液的溶液成分分析

 

菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM設計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XUL設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應不同的樣品平臺:

XUL: 固定平面平臺

XUL XYm: 手動X/Y平臺

高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,可以定位測量位置。

盡管儀器本身結構緊湊,但是由于XUL光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。

外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。

通過強大而界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。

XUL型光譜儀是**而保護**的測量儀器,型式許可符合德國Deutsche Röntgenverordnung-RöV法令要求。

 

 

菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM通用規范

用途

能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測量鍍層厚度和材料分析

可測量元素范圍

從氯(17)到鈾(92),如使用選配的WinFTM® BASIC,可多同時測量24種元素

設計理念

臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向

由下往上

 

菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM之X射線源

X射線靶材

帶鈹窗口的鎢靶射線管

高壓

三種可調高壓:30 kV40 kV50 kV

孔徑(準直器)

圓形Ø 0.3mm ,(可選配置:矩形0.3 mm x 0.05 mm

測量點大小

取決于測量距離和使用的準直器的大小,視頻窗口中顯示的就是實際的測量點尺寸,小的測量點面積約為Ø 0.51 mm

測量距離,如樣品為腔體時

使用保護的DCM(測量距離補償法)功能:

測量距離為0 ~ 20 mm時,為已校準范圍;

測量距離為20 ~ 27.5 mm時,為非校準范圍。

 

菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM之X射線探測

X射線接收器

比例接收器

二次濾波器

可選:鈷濾波器或鎳濾波器

 

菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM樣品定位

視頻顯微鏡

高分辨率 CCD彩色攝像頭,可用來觀察測量位置 十字線帶有刻度尺和測量點指示裝置

測量區域的LED照明亮度可調節

放大倍數

38 x ~184x (光學變焦: 38x ~ 46x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

 

菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM樣品臺

樣品臺

XUL

XUL XYm

設計

固定樣品平臺

手動XY平臺

X/Y方向大可移動范圍

-

50 x 50 mm

樣品放置可用區域

250 x 280mm

樣品大重量

2kg

樣品高度

240mm

 

菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM電氣參數

電壓,頻率

AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

功率

大為 120 W (測量頭重量,不包括計算機)

保護等級

IP40

 

菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM儀器規格

外部尺寸

xx[mm]395 x 580 x 510

重量

45 kg

內部測量艙尺寸

xx[mm]360 x 380 x 240

菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM環境要求

測量時溫度

10°C – 40°C / 50°F – 104°F

存儲或運輸時溫度

0°C – 50°C / 32°F – 122°F

空氣相對濕度

≤ 95 %,無結露

 

菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM計算系統

計算機

帶擴展卡的Windows®個人計算機系統

軟件

標準配置:Fischer WinFTM® LIGHT

可選配置:Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER

執行標準

CE合格標準

EN 61010

X射線標準

DIN ISO 3497ASTM B 568

型式許可

型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護措施的測量儀器

 

fischer X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM訂貨號

FISCHERSCOPE X-RAY XUL

603-029

FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm

603-131

如有特殊要求,可與Fischer磋商,定制特殊的XUL型號。


其他 相關儀器鐵素體測量儀高斯扭力沖擊試扭轉疲勞試電子萬彈簧金屬電人造板車輛測設備

Fischer基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。可測量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。
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