FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。
為了使每次測量都能在優的條件下進行,XULM配備了可電動調整的多種準直器及基本濾片。
比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量??蓽y量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。
XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。
本款儀器特別適合用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
典型的應用領域有:
微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量
印制線路板上手動測量
珠寶手表業中的鍍層厚度測量及成分分析
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應不同樣品平臺:
XULM: 固定平面平臺
XULM XYm: 手動X/Y平臺
高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,可以定位測量位置。
盡管儀器本身結構緊湊,但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。
外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。
通過強大且界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。
XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護措施的測量儀器。
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm通用規范
用途 |
能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測量鍍層厚度和材料分析 |
可測量元素范圍 |
從氯(17)到鈾(92),如使用選配的WinFTM® BASIC,可多同時測量24種元素 |
設計理念 |
臺式儀器,測量門向上開啟 |
測量方向 |
由下往上 |
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYmX射線源
X射線靶材 |
帶鈹窗口的鎢靶微聚焦射線管 |
高壓 |
三種可調高壓:30 kV,40 kV,50 kV |
孔徑(準直器) |
4個可切換準直器: 標準型(523-440):圓形Ø 0.1mm;Ø 0.2mm;矩形0.05 x 0.05mm;0.2 x 0.03mm 可選 (523-366):圓形Ø 0.1mm;Ø 0.2mm;Ø 0.3 mm;矩形0.3 x 0.05 mm 可選 (524-061):圓形Ø 0.1mm;Ø 0.2mm;矩形0.3 x 0.05 mm;0.05 x 0.05mm 可按要求定制其它規格 |
基本濾片 |
3種可切換的基本濾片(標準型:鎳,無,鋁) |
測量點大小 |
取決于測量距離和使用的準直器的大小,視頻窗口中顯示的就是實際的測量點尺寸,使用矩形0.05 x 0.05mm準直器,小的測量點面積約為Ø 0.1 mm。 |
測量距離,如樣品為腔體時 |
使用保護的DCM(測量距離補償法)功能: 測量距離為0 ~ 20 mm時,為已校準范圍; 測量距離為20 ~ 27.5 mm,為非校準范圍。 |
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYmX射線探測器
X射線接收器 |
比例接收器 |
二次濾波器 |
可選:鈷濾波器或鎳濾波器 |
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm樣品定位
視頻顯微鏡 |
高分辨 CCD彩色攝像頭,可用來觀察測量位置 十字線刻度和測量點大小經過校準 測量區域的LED照明亮度可調節 |
放大倍數 |
38 x ~184x (光學變焦: 38x ~ 46x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x) |
樣品臺 |
XULM |
XULM XYm |
設計 |
固定樣品平臺 |
手動XY平臺 |
X/Y方向大可移動范圍 |
- |
50 x 50 mm |
樣品放置可用區域 |
250 x 280mm |
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樣品大重量 |
2kg |
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樣品高度 |
240mm |
X射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm電氣參數 |
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電壓,頻率 |
AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz |
功率 |
大為 120 W (測量頭重量,不包括計算機) |
保護等級 |
IP40 |
儀器規格 |
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外部尺寸 |
寬x深x高[mm]:395 x 580 x 510 |
重量 |
約45 kg |
內部測量艙尺寸 |
寬x深x高[mm]:360 x 380 x 240 |
環境要求 |
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測量時溫度 |
10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
存儲或運輸時溫度 |
0°C – 50°C / 32°F – 122°F |
空氣相對濕度 |
≤ 95 %,無結露 |
計算系統 |
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計算機 |
帶擴展卡的Windows®個人計算機系統 |
軟件 |
標準配置:Fischer WinFTM® LIGHT |
可選配置:Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER |
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執行標準 |
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CE合格標準 |
EN 61010 |
X射線標準 |
DIN ISO 3497和 ASTM B 568 |
型式許可 |
型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護措施的測量儀器。 |
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm如有特殊要求,可與Fischer磋商,定制特殊的XULM型號。
涂裝 相關儀器:涂層測厚儀,漆膜硬度測試儀,電解膜厚儀,黏度計/粘度計,X射線測厚儀,附著力測試儀,微型光澤儀,分光色差儀,霧影儀,反射率測定儀,光譜儀,涂膜干燥時間記錄儀,標準光源箱