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x射線膜厚儀

]資料
如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: x射線膜厚儀
產品型號: X-RAY XULM X-RAY XULM? XYm
產品展商: 德國菲希爾Fischer
關注指數:5398
產品文檔: 無相關文檔
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簡單介紹
x射線膜厚儀FISCHERSCOPE?-X-RAY XULM以及XULM? XYm是應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。x射線膜厚儀又稱x-ray熒光分析儀或者x-ray膜厚儀

x射線膜厚儀

   的詳細介紹
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM系列分為XULM和XULM-XYm兩款,X射線光譜儀,用于細小零部件上鍍層厚度的無損測量和成分分析。

x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm簡介

FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。

為了使每次測量都能在優的條件下進行,XULM配備了可電動調整的多種準直器及基本濾片。

比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量??蓽y量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。

XULMX射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。

本款儀器特別適合用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

典型的應用領域有:

微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量

印制線路板上手動測量

珠寶手表業中的鍍層厚度測量及成分分析

 

x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm設計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應不同樣品平臺:

XULM 固定平面平臺

XULM XYm 手動X/Y平臺

高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,可以定位測量位置。

盡管儀器本身結構緊湊,但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。

外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。

通過強大且界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。

XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護措施的測量儀器。

 

x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm通用規范

用途

能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測量鍍層厚度和材料分析

可測量元素范圍

從氯(17)到鈾(92),如使用選配的WinFTM® BASIC,可多同時測量24種元素

設計理念

臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向

由下往上

 

x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYmX射線源

X射線靶材

帶鈹窗口的鎢靶微聚焦射線管

高壓

三種可調高壓:30 kV,40 kV50 kV

孔徑(準直器)

4個可切換準直器:

標準型(523-440):圓形Ø 0.1mm;Ø 0.2mm;矩形0.05 x 0.05mm;0.2 x 0.03mm

可選 (523-366):圓形Ø 0.1mm;Ø 0.2mm;Ø 0.3 mm;矩形0.3 x 0.05 mm

可選 (524-061):圓形Ø 0.1mm;Ø 0.2mm;矩形0.3 x 0.05 mm;0.05 x 0.05mm

可按要求定制其它規格

基本濾片

3種可切換的基本濾片(標準型:鎳,無,鋁)

測量點大小

取決于測量距離和使用的準直器的大小,視頻窗口中顯示的就是實際的測量點尺寸,使用矩形0.05 x 0.05mm準直器,小的測量點面積約為Ø 0.1 mm。

測量距離,如樣品為腔體時

使用保護的DCM(測量距離補償法)功能:

測量距離為0 ~ 20 mm時,為已校準范圍;

測量距離為20 ~ 27.5 mm,為非校準范圍。

x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYmX射線探測器

X射線接收器

比例接收器

二次濾波器

可選:鈷濾波器或鎳濾波器

x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm樣品定位

視頻顯微鏡

高分辨 CCD彩色攝像頭,可用來觀察測量位置 十字線刻度和測量點大小經過校準

測量區域的LED照明亮度可調節

放大倍數

38 x ~184x (光學變焦: 38x ~ 46x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

 

樣品臺

XULM

XULM XYm

設計

固定樣品平臺

手動XY平臺

X/Y方向大可移動范圍

-

50 x 50 mm

樣品放置可用區域

250 x 280mm

樣品大重量

2kg

樣品高度

240mm

 

X射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm電氣參數

電壓,頻率

AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

功率

大為 120 W (測量頭重量,不包括計算機)

保護等級

IP40

儀器規格

外部尺寸

xx[mm]395 x 580 x 510

重量

45 kg

內部測量艙尺寸

xx[mm]360 x 380 x 240

環境要求

測量時溫度

10°C – 40°C / 50°F – 104°F

存儲或運輸時溫度

0°C – 50°C / 32°F – 122°F

空氣相對濕度

≤ 95 %,無結露

計算系統

計算機

帶擴展卡的Windows®個人計算機系統

軟件

標準配置:Fischer WinFTM® LIGHT

可選配置:Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER

執行標準

CE合格標準

EN 61010

X射線標準

DIN ISO 3497 ASTM B 568

型式許可

型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護措施的測量儀器。

x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm如有特殊要求,可與Fischer磋商,定制特殊的XULM型號。

涂裝 相關儀器:涂層,漆膜度測電解膜,黏度計/度計X,附著,微型,分光霧影,反射率,,涂膜干時間記錄儀,標準光源

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